铜线的电阻率约为1.724×10^-8 Ω·m，这一数值体现了铜作为导体的优异性能。电阻率是衡量材料导电性的关键指标，它揭示了单位长度和单位横截面积的导体在特定温度下对电流流动的阻碍程度。铜因其丰富的自由电子而展现出卓越的导电性，从而拥有相对较低的电阻率。

值得注意的是，电阻率受温度影响而发生变化。在标准温度下，铜线的电阻率保持在上述水平。但随着温度的升高，铜线内部自由电子受到更多的热能影响，导致与导体原子核的碰撞更加频繁，电阻因而增加，即电阻率上升。反之，温度下降时，自由电子的热能减少，电阻率也随之降低。

除了温度，铜线的电阻率还受到其他因素的影响，如材料的纯度、晶体结构、晶粒大小等。高纯度铜因其杂质含量低，展现出更低的电阻率。此外，铜线的制造工艺和后续处理同样对电阻率有所影响。例如，冷加工能够提高铜线的导电性，降低电阻率，而氧化或污染则会增加电阻率。

综上所述，铜线的电阻率是一个复杂的多变量函数，受温度、纯度、晶体结构、制造工艺等多种因素共同作用。在实际应用中，应根据具体的使用条件和需求，选择适当的铜线类型和规格，以确保其能够满足优良的导电性能要求。