光耦的好坏判断方法主要有以下几种：

比较法：拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，然后将这个值与好的光耦对应脚的测量值进行比较。如果阻值相差较大，那么这个光耦可能已经损坏。

数字万用表检测法：最好的例子就是PC111光耦的检测。在检测时，应将光耦内接二极管的正端 {1}脚和负端 {2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内（此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管c极 {5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极 {4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在R×1k挡。通过观察指针式万用表指针的偏转角度，从而判断光耦的好坏。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，反之较低。如果表针不动，则说明光耦可能已经损坏。

外观检查：检查光耦的外壳是否完整，是否有破损或裂纹等。如果外观有明显的物理损伤，那么光耦可能已经损坏。

正常工作电压测试：可以通过测试光耦的工作电压来判断其是否正常工作。可以使用万用表或示波器来测量光耦的输入和输出端的电压。如果输入端提供的电压无法使光耦正常工作，或者输出端的电压与预期不符，那么光耦可能存在问题。

光耦传输特性测试：光耦的传输特性是指在不同输入电压条件下，光敏器件输出电流的变化通常可以通过改变输入端的电压，同时测量输出端的电流，来测试光耦的传输特性。如果发现光耦的传输特性与规定的特性显著不符，那么光耦可能存在问题。

不同的检测方法可能需要不同的设备和工具，所以在判断光耦是否好坏时，最好可以使用多种方法进行综合判断。